somebady 发表于 2006-9-20 23:56:28

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01-03 预处理(对SA区部分信息进行初始化)
04-0F 伺服测试(对缺陷磁道进行扫描测试)
10-1F 通道优化测试
20-2F 伺服参数调整
30-3E 缺陷扫描,分析,处理 (精确扫描坏扇区并作屏蔽)
40-4E 逻辑方式工作测试 (没有任何修复作用,仅作为出厂前的可*性测试, 只要在任何一个过程发现有错误就认为该硬盘不适宜出厂)
4F-50 失败或成功的最后处理(4F表示该盘不成功,返回50G是算成功的)BOSE

shuaiji0077 发表于 2007-7-8 16:54:59

非常感谢，收藏了

kuisu12 发表于 2007-7-8 22:31:46

极品呀.好东东

zkth 发表于 2007-7-16 15:07:49

好东西

jinchunming 发表于 2009-10-26 12:48:17

xungege 发表于 2009-12-14 15:04:17

非常感谢，收藏了

281402307 发表于 2009-12-16 00:00:01

非常感谢,收藏了

willzhao 发表于 2011-7-31 23:56:50

非常感谢,正在学习

jiangnan1097 发表于 2011-8-2 10:30:32

非常感谢，收藏了

丁刚 发表于 2012-9-12 16:05:49

学习一下啊啊
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