转[推荐]ST硬盘Cert流程表

somebady · 发表于 2006-9-20 23:56:28

01-03 预处理(对SA区部分信息进行初始化)
04-0F 伺服测试(对缺陷磁道进行扫描测试)
10-1F 通道优化测试
20-2F 伺服参数调整
30-3E 缺陷扫描,分析,处理 (精确扫描坏扇区并作屏蔽)
40-4E 逻辑方式工作测试 (没有任何修复作用,仅作为出厂前的可*性测试, 只要在任何一个过程发现有错误就认为该硬盘不适宜出厂)
4F-50 失败或成功的最后处理(4F表示该盘不成功,返回50G是算成功的)BOSE
[p:5]