八喜 发表于 2005-7-11 13:20:15

Seagate的自检测 (3)

在Cert流程表中,各个流程段所做的工作是不同的:

01-03 预处理(可能清除所有FW)

04-0F伺服测试(包括扫描缺陷轨道)

10-1F通道优化测试


20-2F伺服参数调试


30-3E缺陷扫描,分析,处理 (精确扫描坏扇区并作屏蔽)


40-4E逻辑方式工作测试 (没有任何修复作用,仅作为出厂前的可靠性测试, 只要在任何一个过程发现有错误就认为该硬盘不适宜出厂)

4F-50 失败或成功的最后处理

xvmt 发表于 2006-11-26 16:03:17

老大的说明书没出来前,只能收集点零碎的增加自己对ST的认识

hao-728 发表于 2006-12-7 18:58:32

謝謝八喜大哥大。!!!!!!!!!!!!!!!!!!

taiyuan371 发表于 2006-12-10 20:30:47

只能收集点零碎的增加自己对ST的认识
能不能把完整的说明给发出来要不一点点的没有一个连贯性

dinglanhu 发表于 2008-4-6 16:42:47

st呀st我要怎样才能修好它!
页: [1]
查看完整版本: Seagate的自检测 (3)