Seagate的自检测 (3)

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    分子与原子计算公式

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    发表于 2005-7-11 13:20:15 | 显示全部楼层 |阅读模式
    在Cert流程表中,  各个流程段所做的工作是不同的:

    01-03 预处理(可能清除所有FW)

    04-0F  伺服测试(包括扫描缺陷轨道)

    10-1F  通道优化测试


    20-2F  伺服参数调试


    30-3E  缺陷扫描,分析,处理 (精确扫描坏[wiki]扇区[/wiki]并作屏蔽)


    40-4E  逻辑方式工作测试 (没有任何修复作用,仅作为出厂前的可靠性测试, 只要在任何一个过程发现有错误就认为该[wiki]硬盘[/wiki]不适宜出厂)

    4F-50 失败或成功的最后处理

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    发表于 2006-11-26 16:03:17 | 显示全部楼层
    老大的说明书没出来前,只能收集点零碎的增加自己对ST的认识
  • TA的每日心情
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    2015-8-15 10:41
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    发表于 2006-12-7 18:58:32 | 显示全部楼层
    謝謝八喜大哥大。!!!!!!!!!!!!!!!!!!
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    发表于 2006-12-10 20:30:47 | 显示全部楼层
    只能收集点零碎的增加自己对ST的认识
    能不能把完整的说明给发出来  要不一点点的没有一个连贯性

    该用户从未签到

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    发表于 2008-4-6 16:42:47 | 显示全部楼层
    st呀st我要怎样才能修好它!
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