自导自演 发表于 2018-2-26 11:38:59

谢谢楼主,谢谢普及知识

shlwg 发表于 2018-3-11 22:22:28


谢谢楼主分享!

simplelive 发表于 2018-3-13 12:03:48

truth is bitter also the article may be true

浮云聚散 发表于 2018-3-14 14:48:41

好长。。再看看 自校准过程的完整流程图

mcjack 发表于 2018-4-3 09:31:52

所以Heater DAC并不是控制读写电流的,实际上是控制加热器电流的,用来给磁头加温,进而影响磁头飞行高度。而Clearance参数,实际上是微调了转速,进而也会影响磁头飞行高度。它们都跟磁头的读写电流没有关系。另外PRE Test阶段的两次AFH校准,并不是全部,后面到了CERT阶段,还会再对AFH参数做微调的。所以修改AFH参数,实际上是改变了磁头飞行高度,所以能够影响磁头读写性能,并不是提高了读写电流这样的解释。

最后我们来看一下自校准过程的完整流程图:

rubbyfly 发表于 2018-4-8 17:53:32

看看什么样

firmware 发表于 2018-4-10 18:21:23

Written well, long experience

东方龙卷风 发表于 2018-4-12 11:41:11

普及知识

edoqq 发表于 2018-4-14 13:05:16

HHHHHHHHHHHHHHHHH

mbxk 发表于 2018-4-15 16:03:01

看看内容是啥!
页: 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 [29] 30 31 32 33 34 35 36 37 38
查看完整版本: 评论:语心的所谓硬盘界学术打假,顺便浅谈希捷技术内幕