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[原创] 评论:语心的所谓硬盘界学术打假,顺便浅谈希捷技术内幕

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  • TA的每日心情
    开心
    2018-2-26 11:43
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    [LV.4]七品知县

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    发表于 2018-2-10 16:20:49 | 显示全部楼层
    长知识了啊 !! 很多不懂的 问题都学习了!!
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  • TA的每日心情

    2022-4-5 22:06
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    [LV.5]六品通判

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    发表于 2018-2-20 19:50:51 | 显示全部楼层
    哇塞  我居然看完了  不过有些地方还是一样的懵逼 向前辈学习了
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  • TA的每日心情
    开心
    2025-2-27 21:06
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    [INTOHARD]旅长

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    发表于 2018-2-21 19:39:05 | 显示全部楼层
    mrt 办酒,语心赴宴,详谈三夜,合作共赢。
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    [INTOHARD]工兵

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    发表于 2018-2-26 11:38:59 | 显示全部楼层
    谢谢楼主,谢谢普及知识
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  • TA的每日心情
    开心
    2018-3-30 22:25
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    [LV.4]七品知县

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    发表于 2018-3-11 22:22:28 | 显示全部楼层

    谢谢楼主分享!
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    发表于 2018-3-13 12:03:48 | 显示全部楼层
    truth is bitter also the article may be true
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  • TA的每日心情
    开心
    2018-3-15 09:39
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    [LV.6]五品郎中

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    发表于 2018-3-14 14:48:41 | 显示全部楼层
    好长。。再看看 自校准过程的完整流程图
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  • TA的每日心情
    奋斗
    2018-6-21 07:42
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    [LV.5]六品通判

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    发表于 2018-4-3 09:31:52 | 显示全部楼层
    所以Heater DAC并不是控制读写电流的,实际上是控制加热器电流的,用来给磁头加温,进而影响磁头飞行高度。而Clearance参数,实际上是微调了转速,进而也会影响磁头飞行高度。它们都跟磁头的读写电流没有关系。另外PRE Test阶段的两次AFH校准,并不是全部,后面到了CERT阶段,还会再对AFH参数做微调的。所以修改AFH参数,实际上是改变了磁头飞行高度,所以能够影响磁头读写性能,并不是提高了读写电流这样的解释。

    最后我们来看一下自校准过程的完整流程图:
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  • TA的每日心情

    2019-6-3 09:34
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    [LV.6]五品郎中

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    发表于 2018-4-8 17:53:32 | 显示全部楼层
    看看什么样
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    发表于 2018-4-10 18:21:23 | 显示全部楼层
    Written well, long experience
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