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都是几个有副头坏,一加电或加A区LDR就狂敲,加C区LDR正常的盘。
我的方法:
1、C区做下每个头的伺服测试,找出一测试就敲的头,用PCI3K+MRT(我自己不会改模块砍头,3K砍的不全,起码78模块它没动)砍掉坏头,先3K里勾掉坏头,再写入MRT改出的1F、78、93这三个模块。
2、手工改1F模块里SN、型号、三个SF时备选密度的容量和型号,校验后写入,再读出,写入所有COPY(这个可能可以不做)。
3、关掉一些流程后(和不砍头的盘完全一样)开C区SF。
试了3个盘的情况如下(均为BWO,3是主头):
一个是23头,砍了2头,C到A正常,A跑第一个38就死了,换网上下的A区单头SF模块后从A区开SF成功。
一个是234头,砍了2头,C到A正常,现正在跑第二个38,估计问题不大。
一个是345头,砍了5头,C到A正常,但扫描SA坏扇区时很慢,后来转到A后测试发现4头SA区很差,坏扇区很多,试着写入3头全部模块组后再跑了次C区还是很久才做到A,现正在跑第二个38,很有可能4头也要砍。
方法全部是我个人研究,希望大家多提宝贵意见。 |
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