此次升级主要解决了一些业内难题,包括:西数叠瓦式(SMR)硬盘190损坏后的修复和加载问题,西数硬盘读取坏道的提速问题,希捷调用A表重建编译器,调用P+NG重建编译器的问题。升级核心内容如下: 1. 西数190模块修复。解决因固件区坏道,190内部逻辑错误导致的用户区扇区全部为0的情况。 2. 西数加载190模块到缓存,读取用户区数据。解决因固件区坏道无法回写190或190回写后无效的情况。程序内部自动判断缓存中的190是否已经无效(无效则自动加载)。确保扇区读取的正确性。 3. 限时错误恢复(TLER),重新定义错误恢复时间,能最大程度提升硬盘坏道的读取速度。 1. 西数解锁ROM,解锁后直接使用原电路板访问硬盘固件。 3. 希捷增加8C 家族SSHD解锁方案,通病方案。 4. 希捷增加调用A表重建编译器以及调用P+NG表重建编译器等。 西数叠瓦式(SMR)硬盘采用新的存储方式,与传统的垂直式(SMR)硬盘相比,SMR硬盘磁道的间距更小,数据的读写的难度增加,因此LBA扇区的分配管理也发生了很大变化,使用一份数据结构动态分配LBA扇区,由于是动态分配,LBA对应的物理地址相对是随机的,这份数据结构被称之为T2,即二级译码表。二级译码表保存在190模块中。 磁头问题、盘片问题、固件区坏道都会引起190出错,或者自动重建。另外由于190模块内部结构复杂,且数据量较大,因此模块内容极易出现逻辑错误。硬盘主控检测到190有错误,就会停止加载190内的T2数据到硬盘缓存,而是用一份默认的T2数据写入缓存。因为主控读LBA时,先检测T2内结点对应的LBA是否为0,为0则直接返回,不为0才去访问盘片。这也就是为什么190损坏后扇区变成0的原因。 在190故障中,以往大多采用PBA和CHS的方式读取,但由于这两种方式没有跳过坏道,而且LBA对应的物理地址随机的特性,导致读取出来的数据无法展开目录,大部分文件打不开。而且这种方式读取速度极慢。花费大量时间精力最后可能也是以失败告终。 直接修复190模块内的损坏的节点,回写模块到硬盘,展开目录直接提取数据;对于固件区有坏道的情况,DFL提供了加载190到缓存的功能。由于叠瓦式硬盘内部会自动重启导致缓存中的190数据失效。因此,DFL还会自动检测缓存中数据是否已经失效,失效则重新加载。 190模块常规逻辑错误,直接修复损坏的节点,完成后回写即可读取数据。 190模块读取时有大量坏道,SIT等关键结构信息未损坏。收集未损坏的节点,修复后回写或者加载到缓存读取。 190模块读取时有大量坏道,SIT等关键结构信息都已损坏,扫描所有丢失的节点,修复后导出节点,回写或者加载到缓存读取。
硬盘固件越来越复杂,模块数量也越来越多,而有一些模块如校准日志模块并非重要模块,当硬盘固件损坏时,对于这类模块可以不用修复。此功能则自动判断整理出重要模块,删除不常用或对数据无影响的模块,修改后的模块列表简明扼要。在修复固件问题时,可的减少判断干扰项。 TLER也称错误恢复时间控制,即当硬盘在读写发生错误时,硬盘自身会反复读写该扇区,当启用了TLER时,读写时间达到设定的时间后,硬盘才会返回并从该错误中恢复。而西数的大部分禁用了此功能,禁用时错误恢复较长,导致读取坏道时很慢。DFL通过启用TLER,并设置合适的时间值(如200毫秒),可以极大提高读取坏道扇区的时间,减少硬盘磁头损坏或盘片划伤的几率。 此功能是自动功能,使用通病处理时程序会自动判断此家族,并做出相应解锁方案。 (2)测试功能B5家族解锁(测试将在V2.3.0.0小版本中更新) 在编译器损坏时,和以往通过COM口重现不同,新的方式是通过ATA接口重现,调用A表重建编译器。 用户需要对数据需要进行恢复,采取调用P+NG表来重建编译器。在以往的操作中只调用一种表来重建编译器,有可能会出现失败的情况,新的调用方式增加了成功率。 (1)测试功能西数SMR盘原板解锁(测试将在V2.3.0.0小版本中更新) 用户现在恢复西数800XX系列时会发现800XX系列的PCB电路板带有固件锁,要访问硬盘固件必须更换相应的解锁电路板,耗费时间长,需要找合适的解锁电路板并且增加配件成本。 此功能优点是,可以直接解锁800XX系列固件锁,极大程度的帮助用户提高数据恢复成功率,降低成本费用。 此功能为缓存中读取段位表,当用户在操作西数SMR硬盘分头时,需要调用此段位表。 其他更多新增与修改的功能,用户可以查看官方网站即将公布的最新版本升级日志信息。
|