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发表于 2008-12-5 16:26:06
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31是扫坏扇区,好点的40G的U6盘大约要一小时,完成后一直往下做下去了,我的也全部是做到6F中止了,可能就是这样的,后面我有的N22后继续做到停后回写AT ROM再从40做,有的直接回写AT ROM再从40做,好象都有盘可正常做完并通过最后用VCR的擦除和读测试,一些在VCR里还会出坏扇区的都是前面08、39、31里记录超级多的,可能是盘本身快不行了(这样的盘在回写AT ROM后的几个测试中往往还能扫出上千个的坏扇区,而那些好盘一般只会再扫出几十个)。
我的十几个U6也全这样:
Begin Test 6F
***** Test 6FNOT Implemented
AbEnd Test 6F
不是改到4F,是跑到4F了。跑到4F说明测试中途遇到错误中止了,要看前面的情况来决定怎么处理,自己跑到50则比较好。和固件区没关系,固件区有问题的是测试中有时会弹出一行错误提示,显示的磁道正好是在固件区的(U6是005E-0075),比如LOG写不进什么的,具体内容不记得了,这种盘只能备份固件后初始化固件区(I,,22)后回写,备不出来的写其它盘的兼容固件,但我昨天刚试了一个固件区有问题的坏盘,发现固件区测试时全是坏扇区,没一个好的,不知是盘片不好还是磁头问题。
我现在注意到写回AT ROM跑40时会出来一个Goodcopy=0x,x有的是4,有的只有2,这应该可以大致上看到固件的好坏情况了吧。 |
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