Init SMART fail故障分析及解决方法

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Init SMART fail故障分析及解决方法

首先我们简单来了解一下什么是SMART。SMART全称是“Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology”，中文意思是“自我监测分析与报告技术（自动容错机制）”。是一种自动的硬盘状态检测与预警系统和规范。它是现代硬盘支持的一种功能，可以对硬盘的通电时间、温度、内部电路、盘片表面介质材料等进行监测，并记录硬盘的运行日志，以便及时分析出硬盘可能发生的问题，并提前发出警告，从而保护数据不受损失。但由于ATA标准不断更新，不同硬盘的阈值，属性值，最大出错值可能会有所不同。

由于硬盘在上电，重建编译器或者读写遇到坏扇区等情况下都会向SMART模块写入日志数据，因此SMART模块所在的磁道会被频繁修改，也就导致SMART模块比较容易损坏。希捷F3硬盘与SMART相关的模块有09, 0A和35这三个。这三个模块里记录了诸如错误读取率，加电次数，重新分配扇区数，硬盘启动重试次数，硬盘校准重试次数等等重要的信息。所以一旦这些模块出现损坏，硬盘就有可能出现这样或者那样的问题。而SMART模块损坏正是希捷F3系列硬盘比较常见的一种故障。

下面我们来介绍一下SMART模块损坏的故障表现和判定方法：

1.硬盘上电不就绪，BUSY长忙。这个现象跟编译器模块损坏相似，但是故障的位置却不同，应注意区分。

2.无法清除SMART信息。当在终端下尝试用指令清除SMART信息时，报告“Init SMART Fail”错误，如图所示：


3.无法重建编译器。当在终端下尝试用指令重建编译器时，仍然报告“Init SMART Fail”错误，编译器重建失败。如图所示：



对于第1条这种症状，在排除是编译器模块损坏的情况下，一般都是跟SMART模块相关联的。我们知道SMART模块损坏可能有两种不同的情况，一种是SMART模块所在的磁道出现了逻辑错误，这一点我们下文中会讲到；第二种情况可能是因为记录的条目太多，导致溢出（又称为爆表）。对于第二种情况，属于SMART磁道是好的，但是SMART模块的内容中存在错误的数据，这样也会导致硬盘上电不就绪故障。对于这种情况我们可以通过清除SMART，清除A-list，然后重建编译器来解决。这也就是我们常说的“希捷三步法”。

第2条和第3条非常典型，如果出现这两条症状，问题基本可以确诊为SMART磁道损坏而不是因为SMART溢出。由于SMART磁道损坏会导致无法重建编译器，也就无法完成“希捷三步法”，因此，遇到此种故障的硬盘应该先修复SMART磁道，再进行希捷三步法。

通常情况下，“Init SMART Fail”故障是因为SMART磁道出现了磁道逻辑错误，在之前的软件版本上，对于此类问题，我们的处理方式是使用“磁道读取测试”这一工具来解决。但是从希捷F3模块的2.0.1.2版本起，我们在ROM工具中增加了对“Init SMART Fail”故障的patch修复功能。这个功能非常强大，它能够修改ROM数据，从而使硬盘能够跳过读取SMART磁道这一操作，进而成功地重建编译器而不会返回“Init SMART Fail”错误的提示信息。

下面是如何使用MRT “init SMART Fail” patch功能的详细步骤说明：

打开MRT软件，进入希捷F3程序，然后点击菜单“工具->固件区对象查看->ROM工具”。在弹出的ROM读取对话框中，有四种ROM读取的方式，分别是ATA方式、BootCode方式、系统文件方式以及从文件中加载的方式。我们知道“Init SMART Fail”故障一般是伴随着长忙故障的，所以通常情况下，我们建议选择以BootCode方式来读取ROM。并且一般将波特率设置为460800。



在ROM被成功读取后，我们点击patch工具的图标，可以看到“SMART fail”这一选项，只需点击一下，“Init SMART Fail”故障即可轻松解决。然后我们需要将这个patch后的ROM保存下来，在Boot模式工具下将其写入。




写入完成后，断电上电，重建编译器，“Init SMART Fail”的错误提示就会没有了，并且能够返回重建编译器成功的信息。至此“Init SMART Fail”故障已经被成功修复。



但是有时候，在使用此功能时，可能会弹出“暂不支持此ROM！”的提示信息。



也就是说这个类型的ROM是不能使用这个patch功能的，那么我们如何解决“Init SMART Fail”的问题呢？回顾一下上文，我们刚刚提到过，在此之前我们是可以通过使用“磁道读取测试”这一工具来解决的。

下面是如何使用MRT“磁道读取测试”功能的详细步骤说明：

1. 打开MRT软件，进入希捷F3程序，然后点击菜单“终端->串口二进制模式”。或者直接在软件最右端，点击“串口二进制模式”的图标。如图所示：




2. 接下来点击菜单“工具 -> 磁道备份与还原 -> 按磁道读取固件”，打开磁道读取页面。如果用户还没有建立工作文件夹，此时会弹出“新建文件夹”对话框，如图所示：


MRT会为每个硬盘建立一个工作文件夹，该硬盘读取的所有固件文件都会默认保存在该工作文件夹中。如果硬盘能认盘，则工作文件夹会以硬盘的型号、序列号和固件版本命名，如果硬盘不能认盘，则文件夹默认以当前时间命令，用户也可以更改为自己输入的名称。点击“确定”后，工作文件夹建立，同时“磁道读取”页面打开，如图所示：



磁道读取页面会列出该硬盘所有的服务区磁道，注意这里的磁道全都是指服务区的磁道。在“选择逻辑磁头”列表中用户可以选择指定的磁头号码，这样就可以查看每个磁头上的磁道列表。

由于通常硬盘的运行时固件都是Copy0，也就是在0号磁头上，所以我们选择0号磁头，然后在磁道列表中点击鼠标右键，在右键菜单中选择“全部选中”，这样所有0号磁头的服务区磁道都会被勾选。然后我们点击“磁道读取测试”按钮，如图所示：


这一步是常用的服务区检测操作。目的是检测服务区是否出现不可读的损坏磁道，并列出哪些磁道损坏，检测结果会显示在日志窗口中。

3. MRT开始对选中的服务区磁道进行读取测试。无法读取的磁道会以醒目的红色字体显示。注意希捷12代的SMART模块通常位于0磁头的服务区22——24磁道，其它型号的位置不同，需要根据硬盘型号确认。我们可以看到这些磁道全都读取失败，证明SMART磁道确实出现损坏。如图：


在上面的测试结果中，可以看到除了SMART模块所在的22——24号磁道外，附近的磁道也出现了损坏。我们需要对这些磁道进行修复。注意这里SMART磁道是最重要的，必须进行修复，而附近的磁道，由于不存放关键数据，所以修复是可选的。

4. 在终端菜单，同步设置波特率为460800，然后到磁道读取页，选中22——24号磁道（其它损坏磁道是可选的），然后勾选“有错误时继续”，最后单击“开始读取”按钮，如图：



因为要读取的磁道都是有损坏的，所以需要勾选“有错误时继续”，这会让MRT尝试强制读取这些磁道，最大限度的将模块原来的数据读取出来。读取出来的磁道数据会以文件的形式保存在工作文件夹中，磁道中的坏块会用“！”符号来填充。

5. 磁道强制读取完毕后，会保存到文件。然后我们将这些文件再重新写回磁道，在磁道重写的过程中，硬盘内部会自动重算每个扇区的ECC校验码，当被损坏的磁道重写一遍后，通常磁道就会恢复正常。

点击菜单“工具 -> 磁道备份与还原 -> 按磁道写入固件”，这时会打开磁道写入页。在磁道写入页下方会列出刚才读取到的磁道数据文件，文件名都是以“磁道号_磁头号.trk”方式命名的。选中刚才读取的所有磁道文件，然后点击“开始写入”按钮，即可开始重写损坏磁道。如图所示：



注意：在传输方式选项中，由于此时硬盘不能就绪，SATA接口无法工作，因此不能选择“ATA高速传输”。对于希捷12代及以后的硬盘，可以支持“串口高速传输”，建议选中，这样写入速度会快很多。另外，建议勾选“有错误时继续”，这样会尝试强制写入，修复效果较好。

6. 然后等待磁道写入完成，写入完成后，日志页会报告写入的情况，如图：


没有报错则表示全部磁道写入成功。

7. 写入完成后，重新转到“磁道读取”页面，在磁道列表中勾选刚才重写的磁道，然后点击“磁道读取测试”按钮，重新对刚才的磁道进行读取测试。此时可以发现，刚才不能读取的磁道，现在已经可以正常读取了，证明磁道修复成功，日志显示如图所示：



8. 然后退出“串口二进制模式”，重新在终端下执行重建编译器的指令，可以看到，指令能够成功完成，不再报告“Init SMART fail”错误了。至此“Init SMART Fail”故障已经被成功修复。



以上就是关于Init SMART Fail故障分析和解决方法的全部内容，谢谢。


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