Seagate希捷硬盘Building Self Test(自校准)

tuzi · 发表于 2015-1-24 16:56:02

seagate 希捷硬盘Building Self Test(自校准)

Self Test 是真正的low level format 具有良好维修效果.
边做磁讯号效果测试边做servo pattern 写入
是工厂标准生产流程也是RMA必跑测试
像Seagte 是设计专用机台以TTL 连接硬碟通讯

限于智财权,东欧Hacker 想尽办法去做协定分析.
找出低阶通讯协定,再自行以软硬体去包装

使用昂贵 PC3000 UDMA 启动方法:

先从其他同系列 +同主控晶片组硬碟备份LDR

从这开始

1.进入安全模式如果是用非UDMA 内建可切换电源需要自己手动硬碟断电通电

2.切换Bandrate 速度为921000 最高

Self Writing 启动方式

1.选这加载LDR :选Starting LDR

以安全模式加载 LDR 请参考图

如果是用非UDMA 内建可切换电源需要自己手动硬碟断电通电1~2次

如果 CERT table 中有99要改掉(99=stop) CERT 可以另存 module 改掉后 , 再额外指定
指令E4E  检查已做好的self Test 流程跟时间 (Exam 4E)
指令T4E  检验预定做的Self Test流程

1.终端下输入ctrl-z
把速度改回9600 bps
再输入 #,,22  (改序号 ) 按下Enter
前三码跟磁头有关不可乱输入如果磁头没变化就一样 (9QF12345)
再任意输入PW 五位数(12345  ok)

2.N2,,22  (2代表从第2步开始做 ,,22 是确定执行)  , (所以 N94,,22 是从 94 开始)

3. 再按下 ctrl -t执行

. 可以看到目前流程

: 可看age
  硬碟AGE 说明代表目前硬碟状况

硬盘安装和伺服校正测试
TEST 01 - 製造临时日志
TEST 02 - 格式化和测试错误日志
磁头和电路校正测试
TEST 03 - 伺服校正信息
TEST 04 - 斜波加载/卸载测试
TEST 05 - 传感器滞后测试
TEST 06 - 磁头切换测试
TEST 07 - RUNOUT补偿测试
TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
TEST 09 - 磁头低飞显示
TEST 0A - 磁头稳定性测试
TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置
TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过）
TEST 0F - 当前写测试磁头和电路校正测试
TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头
TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置
TEST 2F - 显示FIR适应性设置伺服性能验证测试
TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试
TEST 23 - 开始/停止（10次）
TEST 24 - 开始/停止（2000次）
TEST 29 - 伺服缺陷扫瞄
缺陷查找和再分配测试
TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级
TEST 31 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 0-1无读取级，50写级
TEST 32 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 2-3无读取级，50写级
TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位
TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位
TEST 3A - 使用1重複读取所有磁头抛光和缺陷测试，重複50次
TEST 3B - 建立缺陷表；填充受损磁头0，1
TEST 3C - 建立缺陷表；填充受损磁头2，3
TEST 3D - 建立缺陷表；填充受损磁头4，5
TEST 3E - 建立缺陷表；填充受损磁头6，7
TEST 3F - 回送测试，写通过测试
错误率性能测试
TEST 40- 开始/停止（10次）
TEST 41- 磁道侵入
TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
TEST 43- RAM 测试
TEST 46- 数据编译比率
TEST 47- 冷写/磁道擦除显示
TEST 48- 错误率，写通过
TEST 49- 写/读/比较（零式样）
TEST 4A- 补偿系数检测
TEST 4B- 读
TEST 4B -所有磁道冷写显示
TEST 4C- 磁头飞行高度测量
TEST 4D- 收集自动FA数据
TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要
TEST 4F- 失败磁盘测试
TEST 50- 通过磁盘测试

AGE 50正常就为正常再写入APP to HDD 就可