6E C区自检流程表

willzhao · 发表于 2011-11-4 23:18:06

让我来告诉你吧,给你一个6E C区自检流程表,其实MT盘的东西大同小意的.要是想学到修改固件模块,没得好几千,别人也不会说的,问了也是白问,懂吧兄弟.还是靠自已慢慢来摸吧.
--F5 注释一行
1--F5 注释一行
2--01 开始
3--70 表面测试
4--F5 注释一行
5--F5 注释一行
6--70 表面测试
7--8D set Aut
8--38 优化
9--1C 扩展伺服校准
10--38 优化
11--8D set Aut
12--70 表面测试
13--70 表面测试
14--70 表面测试
15--70 表面测试
16--8D set Aut
17--04 设置模式
18--05 使用模式
19--11 设置伺服
20--28 扫描缺陷
21--11 设置伺服
22--30 伺服再分配
23--0D 再分配缺陷
24--90
25--6A
26--6A
27--1C 扩展伺服校准
28--89 电源切换
29--F5 注释一行
30--0D 再分配缺陷
31--70 表面测试
32--8D set Aut
33--38 优化
34--1C 扩展伺服校准
35--8D set Aut
36--11 设置伺服
37--1C 扩展伺服校准
38--70 表面测试
39--8D set Aut
40--11 设置伺服
41--7D TrackSqueeze Test
42--11 设置伺服
43--8D set Aut
44--04 设置模式
45--05 使用模式
46--38 优化
47--36 装载优化 RCT
48--8D set Aut
49--7D TrackSqueeze Test
50--81 校准 PN=57 & PN=2F
51--1C 扩展伺服校准
52--22 S.M.A.R.T 校准
53--2D Butterfly
54--16 随机寻道 10K-次
55--16 随机寻道 10K-次
56--2D Butterfly
57--81 校准 PN=57 & PN=2F
58--70 表面测试
59--70 表面测试
60--70 表面测试
61--70 表面测试
62--70 表面测试
63--70 表面测试
64--70 表面测试
65--04 设置模式
66--05 使用模式
67--14 BER-test (误差数)
68--1E 不稳定的磁头
69--17 存取测试
70--81 校准 PN=57 & PN=2F
71--11 设置伺服
72--34 Load Stress
73--34 Load Stress
74--34 Load Stress
75--34 Load Stress
76--34 Load Stress
77--34 Load Stress
78--34 Load Stress
79--34 Load Stress
80--34 Load Stress
81--34 Load Stress
82--34 Load Stress
83--34 Load Stress
84--34 Load Stress
85--34 Load Stress
86--34 Load Stress
87--34 Load Stress
88--34 Load Stress
89--34 Load Stress
90--34 Load Stress
91--34 Load Stress
92--34 Load Stress
93--34 Load Stress
94--34 Load Stress
95--34 Load Stress
96--34 Load Stress
97--34 Load Stress
98--34 Load Stress
99--34 Load Stress
100--37 Adaptive Stress
101--70 表面测试
102--75 HSec FlawScan (搜索坏道)
103--70 表面测试
104--75 HSec FlawScan (搜索坏道)
105--30 伺服再分配
106--0D 再分配缺陷
107--39 TA 再分配
108--39 TA 再分配
109--36 装载优化 RCT
110--70 表面测试
111--1B PES 图表
112--04 设置模式
113--05 使用模式
114--1E 不稳定的磁头
115--04 设置模式
116--05 使用模式
117--1E 不稳定的磁头
118--81 校准 PN=57 & PN=2F
119--36 装载优化 RCT
120--8D set Aut
121--11 设置伺服
122--30 伺服再分配
123--0D 再分配缺陷
124--20 起动停止
125--8D set Aut
126--34 Load Stress
127--34 Load Stress
128--1E 不稳定的磁头
129--36 装载优化 RCT
130--34 Load Stress
131--34 Load Stress
132--1E 不稳定的磁头
133--36 装载优化 RCT
134--34 Load Stress
135--34 Load Stress
136--1E 不稳定的磁头
137--36 装载优化 RCT
138--8D set Aut
139--34 Load Stress
140--34 Load Stress
141--1E 不稳定的磁头
142--36 装载优化 RCT
143--34 Load Stress
144--34 Load Stress
145--1E 不稳定的磁头
146--36 装载优化 RCT
147--34 Load Stress
148--34 Load Stress
149--1E 不稳定的磁头
150--36 装载优化 RCT
151--8D set Aut
152--34 Load Stress
153--34 Load Stress
154--1E 不稳定的磁头
155--36 装载优化 RCT
156--34 Load Stress
157--34 Load Stress
158--1E 不稳定的磁头
159--36 装载优化 RCT
160--34 Load Stress
161--34 Load Stress
162--1E 不稳定的磁头
163--36 装载优化 RCT
164--81 校准 PN=57 & PN=2F
165--8D set Aut
166--13 设置 RW 管理
167--34 Load Stress
168--34 Load Stress
169--34 Load Stress
170--34 Load Stress
171--34 Load Stress
172--34 Load Stress
173--34 Load Stress
174--11 设置伺服
175--15 Read Write Rdx
176--15 Read Write Rdx
177--81 校准 PN=57 & PN=2F
178--36 装载优化 RCT
179--11 设置伺服
180--0B 随机填充
181--30 伺服再分配
182--0D 再分配缺陷
183--39 TA 再分配
184--39 TA 再分配
185--13 设置 RW 管理
186--24 完整性测试
187--24 完整性测试
188--2D Butterfly
189--81 校准 PN=57 & PN=2F
190--1E 不稳定的磁头
191--94
192--96
193--04 设置模式
194--05 使用模式
195--14 BER-test (误差数)
196--81 校准 PN=57 & PN=2F
197--11 设置伺服
198--13 设置 RW 管理
199--15 Read Write Rdx
200--81 校准 PN=57 & PN=2F
201--81 校准 PN=57 & PN=2F
202--81 校准 PN=57 & PN=2F
203--F5 注释一行
204--8D set Aut
205--97
206--F5 注释一行
207--97
208--F5 注释一行
209--8D set Aut
210--97
211--36 装载优化 RCT
212--13 设置 RW 管理
213--8D set Aut
214--04 设置模式
215--05 使用模式
216--15 Read Write Rdx
217--00 完成