呵呵

zaqxsw88888 · 发表于 2006-5-20 17:05:06

R <addr> Дамп буферного ОЗУ
E Редактирование памяти микропроцессора
W Редактирование буферного ОЗУ
ESC Вход в терминальный режим (ATA-интерфейс блокируется!)
Q Выход из терминального режима

где <addr> -требуемый адрес в hex-виде

Отображение памяти командами D и R производится в виде классического шестнадцатеричного
дампа по 256 байт, вкотором каждая строка начинается с адреса, за которым
следуют 16 байт в hex-интерпретации.

Каждая терминальная команда должна заканчиваться нажатием <ENTER>. Нажатие
<ENTER> без предварительного ввода терминальной команды приведет к повтору
предыдущей команды, а в случае, когда предыдущей командой была R или D, -к автоматическому
увеличению адресана 256 байт.

Важно заметить, что в накопителях Hitachi 2.5” системные обработчики ATAинтерфейса
и UART-терминала являются взаимозамещающими. Это означает, что их одновременная
работа не возможна. Таким образом, для начала работы с терминалом необходимонажатьклавишу
ESC в терминальном окне, а в конце работы – податькомандуQ.
Вслучаенесоблюдения этого условия, подача любой ATA-команды в момент, когда накопитель
находится в терминальном режиме, приведет к взведению флага BUSY и .повисанию
. накопителя. И наоборот – находясь в режиме обработки команд ATA - интерфейса
накопитель будет игнорировать входящие командытерминала донажатия клавиши ESC.

Внимание! Не рекомендуется использовать команды E и W для проведения опытов
.в слепую., т.к. запись новых значений в память происходит немедленно, что может нарушить
нормальный циклработынакопителя.

Тестирование накопителя

4. Меню функций утилиты
4.1. Тестирование накопителя ( Test )
. Тестирование в физической трансляции. Выполняет тест поверхности накопителя
непосредственно в режиме Physical CHS (pCHS). Это дает удобнуювозможность
тестированиякакотдельныхзон накопителя, так и выбранных головок. Однако, адекватные
результаты в процессе изучения накопителей наблюдались только на достаточно
старых семействах (AA, BA), на более же современных эффективнее оказалось тестирование
врежиме LBA. Частично это обусловленотем, чтоврежиме тестирования pCHS
накопитель частично отключает механизм коррекции операций чтения -записи.
. Тестирование в логической трансляции. Выполняет тест поверхности накопителя
в логической адресации LBA. На современных семействах этот режим тестирования
является наиболее предпочтительным. После окончания тестирования выполняется
трансляция логических дефектов в реальные физические координаты. По желанию пользования,
вновь найденные дефекты можно добавить в P-List накопителя.
. Тест буфера. Позволяет выявить ошибки буферного ОЗУ накопителя, повреждение
интерфейсного кабеля, IDE-разъема накопителя.

Сервисные функции

4.2. Сервисные функции ( Service )
. Операции с памятью накопителя
. Чтение памяти микроконтроллера (MCU). Позволяет, в частности, считать
ПЗУ накопителя для сохранения, модификации, анализа и т.п. Операцию чтения можно в
любой моментпрервать, чтодостаточнополезнопричтении блоков памяти большого размера.
С учетом стандартного размера флеш-памяти в накопителях Hitachi 2.5”, среднее
время чтения ПЗУ составляет от 25 до 35 минут.

. Чтение буферного ОЗУ (RAM). Позволяетсчитать содержимоеОЗУ,в котором
накопитель хранит большую часть служебной информации, включая таблицы дефектов,
пароли подсистемы Security, информацию о S.M.A.R.T. ит.д.
Внимание! Все операции чтения памяти накопителя возможны только в случае
подсоединения специального адаптера от COM-порта компьютера к терминальному разъему
накопителя.

. Работа со служебной областью (Special Area)
Данная функция предоставляет доступ модулям служебной зоны накопителя в
дружественной для пользователя форме, выполнять операции чтения, записи, редактирования
любого элемента.

Сервисные функции

Пользователь можетпо своему усмотрению редактировать карту модулей, их параметры
и добавлять описания. Все настройки осуществляются путем редактирования файла
hitachi_bla.ini, гдекаждому семейству определенаотдельная секция.

Успешно прочитанные модули могут быть сохранены либо раздельно, либо в виде
файла-контейнера (.BLA) в качестве резервной копии и/или для последующего анализа.
Аналогично, любой из модулей может быть загружен из файла или BLA-контейнера в
текущую карту для последующей записи на диск.

. Операции чтения-записи (I/O)
Данная функцияпозволяет выполнятьоперации чтенияи записикак посекторно, так
и в блочном режиме. Поддерживается работа в LBA и pCHS режимах, а также доступ к
трекам служебной зоны.

Сервисные функции

. Исследование транслятора (Issue Translator)
Выполняет трансляцию логическогоадресаилигруппы последовательных адресов в
соответствующие им физические параметры.

Специализированныефункции

4.3. Специализированные функции накопителя ( Action )
. Пересчет транслятора (Super Format – Quick)
Проверяет целостность и корректность модуля P-List, выполняет очистку таблицы
grown-дефектов и зановоформируетмодуль G-List. Вслучае, еслиодиниздефект -листов
поврежден или содержит некорректные записи о дефектах, накопитель выдаст состояние
.ошибка..

Внимание! Данную функцию необходимо выполнять после ЛЮБОГО изменения
таблиц дефектов. В противном случае, накопитель может заблокировать доступ в пользовательскую
зону.

В накопителях Hitachi 2.5” НЕ реализована функция автоматического переноса дефектов
из G-List в P-List. Для этого необходимо воспользоваться меню Defect List утилиты
в режиме P+G List.

. Запись микрокода в ПЗУ накопителя (Update Flash Permanent)
Выполняетзаписьмикрокодавофлэш-памятьнакопителя. Максимальное время операции
составляет около 3 минут. Данную операцию не рекомендуется прерывать, т.к. это
может привести кпорчесодержимогофлеш -памяти с последующим выходом накопителя
из строя.

Индикатором начала операции является остановка шпинделя. После окончания операции
записи, накопитель сам перезапустится и выйдет в готовность, если не было ошибки.

. Очистка S.M.A.R.T.
Выполняет функцию сброса текущих параметров атрибутов S.M.A.R.T. к их значениям
“по-умолчанию”. Данная операция является моделенезависимой и успех ее выполнения
напрямую зависит от состояния накопителя (отсутствие ошибок в служебной зоне
ит.д.).

. Очистка журналов S.M.A.R.T.
Выполняетфункциюочистки журналов состояния и ошибок S.M.A.R.T. Данная
операция является моделенезависимой и успех ее выполнения напрямую зависит от состояния
накопителя (отсутствие ошибок в служебной зоне, рабочее состояние головок и
т.д.).

Дефект -листы

4.4. Дефект-листы накопителя ( Defect List )
Диалог работы с дефект -листами накопителей Hitachi 2.5” поддерживает режимы
P+G List, P-List, G-List и Logical. Всеостальные режимысмысла неимеют.

Пользователь может свободно изменять содержимое P-List, удаляя, добавляя или
редактируя записи о дефектах. G-List накопителя доступен только для просмотра и очистки.
Добавление дефектов в него считается нецелесообразным из-за отсутствия функции
автоматического переносадефектов в P-List при пересчете транслятора.

Для переноса дефектов из G-List в P-List необходимо в режиме P+G List нажать
правуюкнопку мыши и выбрать пункт Clear&Upload To Disk. При этом G-List будет автоматически
очищен.

В случае изменения записей P-List или других правок в дефект -листах обязательно
необходимовыполнитьфункциюпересчета транслятора (меню Action).

** значение номера сектора равное 65535 является признаком трекового дефекта

Длязрительногоанализараспределениядефектовнаповерхностинакопителяс учетом
зонного распределенияреализованафункция Show Round Diagram. Этопозволяет зри

Дефект -листы

тельно оценить характер наиболее частых проблем, таких как радиальные царапины или
разрушенной зоны.

Внимание! В силу специфических особенностей микропрограмм накопителей
Hitachi 2.5” во всей линейке поддерживаемых семейств, возможно некорректное декодирование
дефект-листов и как следствие этого – формирование нового листа при его изменении.
Разработчики HRT рекомендуют крайне осторожно и внимательно выполнять
операции изменения P-List`а накопителя с целью предотвращения его вероятного повреждения.

Непренебрегайте возможностьюсохранить резервнуюкопию служебных модулей в
меню Service Area.

Особенностипрограммногоремонта

5. Особенности программного ремонта накопителей
Hitachi 2.5”
5.1. Проблема самопроизвольного повреждения содержимого
ПЗУ
Наиболее неприятной из встречающихся проблем является случай, когда самопроизвольно
или из-за внешних причин, (например, в случае ошибки или прерывания загрузки
новой микропрограммы) происходит повреждение содержимого флеш -памяти (ПЗУ)

микропроцессора. Вкачестве основныхпризнаков можно выделить следующие:

. Не раскручивается шпиндель, но отсутствуют звуковые признаки залипания
головок;
. Послеподачипитания накопитель практически сразувыходитвготовность;
. На все команды пользователя накопитель выставляет флаг ошибки;
. При подаче SoftReset (программного сброса) накопитель возвращает ошибку
0x05 = “MCU Failure”.
Многочисленные опыты с такими накопителями показали, что проблема безболезненно
решается загрузкой новой микропрограммы в 99.(9)%.

Внимание! Накопители Hitachi 2.5” среди прочих особенностей имеют еще одну

– НЕсовместимость микрокода в пределах одного семейства, но разных моделей. На практике
это означает, что (например) в накопитель DK23CA-20 можно залить микропрограмму
ЛЮБОЙ версии, но конкретно для модели DK23CA 20Gb. Эта достаточно неприятная
особенность вызвана тем, что микрокод накопителей Hitachi 2.5” является моделезависимым
и в пределах одного семейства разноголовые (имеется ввиду количество физическихголовок)
модели имеют жестко привязанный к ним код.

Необходимостьперекоммутации

5.2. Необходимость перекоммутации
Абсолютно любой накопитель рано или поздно ломается. И не редко проблема заключается
в одной или более головках чтения-записи. Здесь возможно множество причин,
будь то повреждение MR-элемента, общее ухудшение рабочих характеристик, массовое
появление физическихдефектовна отдельно взято поверхности и т.д.

Однако, как уже было сказано в п.п.5.1. накопители Hitachi 2.5” имеют моделезависимый
микрокод и это НЕ ПОЗВОЛЯЕТ производить перекоммутацию накопителя путем
правки карты голов.

Тем не менее, способ был найден и неоднократно проверен. В случае, когда накопитель
имеет более 2 физических головок, можно воспользоваться следующей методикой:

1. Сохранить содержимое служебной зоны в обязательном порядке;
2. Крайне желательно сохранить копию ВСЕЙ ПЗУ. Чаще всего это 256 Кб
(0x40000 байт);
3. В диалогеDefect Lists воспользоваться дополнительным меню Kill Head и удалить
вседефектыпоотключаемойфизическойголовке. При этом, дефекты по болеестаршейголовке,
еслионаесть, должнысместиться .вниз.;
4. Сохранить новый P-List (Clear & Upload);
5. Загрузить в накопитель новую микропрограмму от более младшей модели этого
жесемейства, взависимостиотколичестваотключаемыхголовок;
6. В случае успешного обновления микрокода, выполнить пересчет транслятора
(Super Format->Quick) и очистку S.M.A.R.T. (атрибуты ижурналы);
7. Перезапустить накопитель;
8. Проверить корректность определения текущей модели в утилите, состояниеслужебнойзоныисделать
выводоуспешном илинеудачномпроведении операции;
В случае, когда состояние накопителя не позволяет сохранить новый P- List до
фактического отключения головки, то п.3 ип.4 можно выполнитьсразу после обновления
микрокода, но до выполнения п.6.

Внимание! Наиболее современные семейства EA, EB и FB не имеют стандартных
одноголовых моделей. На этихсемействахне возможноотключитьфизические головки 0 и
1, т.к. в системных функциях чтения-записи служебной зоны в микрокоде реализован
непосредственный доступ к физическим головкам в порядке 0→1 и карта голов в этих
функция игнорируется.

Повреждениеслужебныхмодулей

5.3. Повреждение служебных модулей
В силу особенностей строения служебной зоны накопителей Hitachi 2.5”, далеко не
все модули критичны для работоспособности накопителя, в частности для доступа к пользовательской
зоне. С описание служебной зоны можно ознакомится в п.3.1 настоящего
руководства.

Модуль DP

Повреждение всех копий этого модуля может привести к ситуации, когда накопитель
заблокирует доступ к данным пользователя. Частным случаем является ситуация, когда
с повреждением модуля все записанные сектора будутпереставатьчитаться. Впервую
очередьэффект касаетсяслужебнойзоны.

Данный модуль содержит адаптивную информацию, отдельные параметры сервосистемы,
параметры голов и т.д., заполняемые программой заводского тестирования.Замена
модуля с любого другого накопителя может привести к случаю, когда всеоперациичтения-
записи будут заканчиваться с ошибкой. Часто допускается замена модуля с другого
накопителя этого же модельного ряда и семейства, но с последующим тестом записи
всей поверхности.

Модуль ID

Данныймодульнекритичендлякорректнойработоспособностинакопителядаже в
случае повреждения всех его копий. Для его восстановления можно использовать этот же
модуль, взятыйсдругогонакопителя этой же модели и семейства.

Модуль SD

Повреждение всех копий модуля равнозначно эффекту установки парольной защиты
и накопительблокируетвседисковые операциичтения -записи. Приэтом всемействах
DA, EA, EB, FB, атакже, вболее старых поколениях в зависимости от используемой версии
микрокода, возможно блокирование команды переключения технологического режима
накопителя, что равнозначно полной блокировки накопителя даже в технологическом
режиме.

Модуль DR

Повреждение всех копий этого модуля может привести к ситуации, когда накопитель
заблокирует доступ к данным пользователя. В любом случае, при загрузке этого модуля
накопитель проверяет соответствие настоящего серийного номера с содержимым
модуля.

Повреждениеслужебныхмодулей

Модули PD, GD. Дефект-листы накопителя

В случаеповреждениявсех копий отдельного или всехмодулейдефект -листов, накопитель
заблокирует доступкпользовательскойзонеи на команды чтения -записи будет
выдавать ошибку ABORT.

В подобной ситуации можно попробовать восстановить модули из резервной копии
служебной зоны, если она была сохранена ранее или же воспользоватьсядиалогом Defect
List и для каждогоповрежденногомодуля выполнить функцию Clear & Upload. Сообщение
об ошибке чтения модуля в момент выбора требуемого дефект-листа можно проигнорировать.

Важно помнить, что в случае повреждения модуля G-List после его очистки будет
утеряна информация о возможно существовавших переназначенных секторах, что может
привести к нарушению целостности данных пользователя. В случае же повреждения модуля
P-List, после его очистки будет утеряна информация как о существовавших секторных,
так и трековых дефектах, что способно вызвать весьма существенные сдвиги действительной
физическойгеометрии пользовательскойзоны и как следствие – серьезные разрушения
структуры имеющихся данных.

Модули S.M.A.R.T.

Повреждение любого из модулей S.M.A.R.T. не является абсолютно критичным для
корректной работы накопителя. При этом функции S.M.A.R.T. блокируются. Для восстановления
поврежденного модуля достаточно перезаписать его копией, взятой с другого
накопителя, или просто прописав пустым сектором и затем выполнить функции очистки
атрибутов ижурналов S.M.A.R.T.

Длязаметок