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发表于 2017-1-31 10:55:18
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B1 伺服数据校准
B9 低级格式化
BA 硬盘全盘扫描并自动加表
DA TS 写入测试
DB 扫描缺陷(读)并加入,磁道扇区读取测试
D7 磁盘表面扫描
D6 RRO 测试
D5 测试簇,Block 测试
D4 测试磁道缺陷,T 表测试
D3 处理扇区数量,PSN 校准
D2 加入P 表
D1 扫描缺陷(写)并加入
F7 清除单位时间错误数据
C4 磁头读写参数优化(伺服校准)
C3 调整磁道密度
C8 调整扇区密度
EE 校准Log
DC 校准结束
WD ARC0 注解
一:6F 调整磁头在各个段位最大读写功率以及磁头动态飞行高度测试ID 为C4
二:6A 1,前置放大转向器校正 2,WRRO 延时校正 3,初步设置磁头MRJOG 功率值 4,调整
每个段位的磁头读写交错因子 测试ID 为C4
三:6B 1,前置放大校正 2,磁头MRJOG 优化 3,设置磁通量到参数1 和设置磁密度到参数1 4,
计算最佳磁密度测试ID 为C3
四:69 计算每个磁面的磁通量 设置适当的容量比例测试ID 为C8
五:46 全面高级读取通道优化测试测试ID 为C4
202X (C4-6F) 205X (C4-6A) 203X (C3-6B) 201X (C8-69) 200X (C4-46)
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Disk FW Laboratory
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