PCI的三星模块里保存ROM要用终端，这终端是不是和ST的那COM一样的？
买下.....................
看不明白. 再找些资料自个漫漫学喽！
不够详细啊!!!
这只是直接从英文版的PCI PC3K的说明上翻译过来的，要是能加上自己的使用心得更好。
没钱呀.
smu sksksk
没钱了啊！兄弟，赚到了再来买.
哈哈
楼主这么多钱了还要钱??俺们这些穷苦老百姓想学点东西咋得就这么难呢???!!!!!为了穷哥们我贴出来了.
在做BURN-IN 测试之前先要加载正确的代码，在加载BURN代码之前一定确认是否需要保留用户数据，如是则不可进行加载，因为加载会破坏用户区数据；同时我们也要在测试之前保存模块和ROM，还有，我们应该准备一个外接电源，因为这个测试需要6到20个小时；下面我们介绍执行老化测试的步骤：1。写老化程序到硬盘中：“BURN-IN SCRIPT”，“OVERLAY”，“BURN CODE OR DOWNSIZE BURN CODE”；2。关开电源，等待5分钟然后进行测试(在过程中间如果我们使用复位那么硬盘就会转到就绪状态并可以存取到服务区），如果我们把硬盘连接到一个终端中，我们就可以看到测试的进程；如果我们使用一个外接的LED来控制测试过程和完成，在测试完成之后硬盘就会停止转动并开始闪灯，同时我们也可以通过终端显示来确定是否完成：LED00 0000。如果测试成功，我们就可以根据测试前写到ROM的代码决定写main code 或者DOWNSIZE CODE；写完之后我们可以开关电源，这样硬盘就可以工作了。如果测试完成时出现错误，我们不可以写main code到ROM中，如果测试已经运行了Burn-in Script文件，我们应该尝试使用原始的Burn-in Script文件再测试，要这样做的话，我们可以写BISPT模块到硬盘，加载它以便查看模块表，更改模块的标题为BURN，开关电源--这样硬盘就会重新开始测试。如果测试已经运行原始的Burn-in Script文件，我们可以尝试测试相应的Burn-in Script，如果缺陷表已经填满，我们可以尝试运行DOWNSIZE 测试，在原始的Burn-in Script中包含有是硬盘转换到Burn-in Script模式的功能，例如，在测试的过程中硬盘从P60CODE模式读DOWNSIZE BURN CODE（对于PALO硬盘）或者从P40CODE（对于PANGO硬盘），把它写到ROM然后再测试，如果ATA ID在测试结束后已经改变到初始模式，那么我们应该写DOWNSIZE MAIN CODE代替MAIN CODE。
10元也不够了