请问 感觉 兄一个关于6G160盘C区校准的问题。有附件
请问感觉兄一个关于6G160盘校准的问题。我做了8个6G160P0的盘的校准，是从C区开的，盘都跑完了校准流程，查看P表也有记录，每个盘都不同，少的两三千，多的七八千个，但是奇怪的是每个盘跑完了后用MHDD扫描还是有几十到一百多个不等的绿块，并且每个盘的绿块分部感觉都十分相似，难道是6G盘的75坏道检测流程不严格，还是流程不对。十分困惑，万望能否提示一二。谢谢。。。附件是两个。VOO 和UWO 回复 1# zrwlh
6G我个人认为设计上存在缺陷，和流程也有一定的关系，比如6Y，他的流程就用好多种，请作一下逻辑扫描看看绿点是否集中在哪个头上，可以考虑坎头作理，希望不是主头。也可以用VCR作一下ERASE，把值设为35即可，也可以把流程上传供大家参考，一看流程，是不是流程问题就一目了然了。6Y的流程是有些缺陷的，6E，6L就完美了，也可以自行参考一下。 还有一种可能就是自检没有作完，只是进表了，类似6Y卡中间的15。 谢谢。。。稍后我上传流程。。 流程是跑完了的，到了最后一个15 附件上传了。 我上网的机器上没有WINHEX，你最好上个流程图片，从75到最后的15即可， -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------
NN:ID: Name : Param1 : Param2 : Param3 : Param4 : Param5 : Param6 : Param7
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0 : 0001 : 开始测试 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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2 : 0006 : : 0010 : 2710 : 0000 : 000A : 0500 : 0000 : 0014
3 : 0042 : : 0000 : 0052 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
4 : 0042 : : 0000 : 00E4 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
5 : 0090 : : 20C1 : 0000 : A000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
6 : 0042 : : 0000 : 0051 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
7 : 0042 : : 0000 : 00E4 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
8 : 0070 : 表面测试 : 1400 : 028A : 030F : 0050 : 03E8 : 1E01 : 0005
9 : 008D : set Aut : 8201 : 0000 : 0000 : 0000 : 2D00 : 0000 : 0000
10: 009A : : 0248 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0503 : 001F
11: 020F : : 0880 : FFFF : 00FF : 0000 : 0000 : 0537 : 0505
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13: 0070 : 表面测试 : 1400 : 028A : 030F : 0050 : 03E8 : 1E01 : 0005
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15: 008D : set Aut : 8201 : 0000 : 0000 : 0000 : 2D00 : 0000 : 0000
16: 0070 : 表面测试 : 1400 : 028A : 030F : 0050 : 03E8 : 1E01 : 0005
17: 020F : : 0880 : FFFF : 00FF : 0000 : 0000 : 0537 : 0505
18: 001C : 扩展伺服校准 : 0680 : 03E8 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
19: 0070 : 表面测试 : 1400 : 028A : 030F : 0050 : 03E8 : 1E01 : 0005
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24: 0070 : 表面测试 : 2001 : 0000 : 030F : 0000 : 0BB8 : 0001 : 0005
25: 0070 : 表面测试 : 1400 : 0000 : 030F : 0050 : 03E8 : 0A01 : 0005
26: 0070 : 表面测试 : 2000 : 0000 : 030F : 0000 : 0BB8 : 0001 : 0005
27: 0070 : 表面测试 : 1700 : 0000 : 030F : 0050 : 03E8 : 0A01 : 0005
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29: 0004 : 设置模式 : 0000 : 0000 : 0008 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
30: 0005 : 使用模式 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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32: 0028 : 扫描缺陷 : 0382 : 0000 : 0200 : 0100 : 0002 : 0501 : 0001
33: 0011 : 设置伺服 : 0001 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
34: 000D : 再分配缺陷 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0001 : 0000 : 0002
35: 0030 : 伺服再分配 : 0000 : 0000 : 0064 : 0000 : 0002 : 0000 : 0000
36: 0090 : : 0A81 : 0152 : 0000 : 0000 : 0000 : 3C48 : 0000
37: 53F5 : 注释一行 : 7661 : 5265 : 7463 : 6550 : 6D72 : 7455 : 6C69
38: 006A : ? : 0101 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
39: 006A : ? : 0901 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0050 : 0000
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55: 0082 : : 0691 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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60: 007D : TrackSqueeze Test : 0608 : 0082 : C803 : 5050 : 051E : 14FF : 9603
61: 0011 : 设置伺服 : 0001 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
62: 54F5 : 注释一行 : 2044 : 6661 : 6574 : 2072 : 3539 : 0000 : 0000
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68: 0082 : : 0691 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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70: 001C : 扩展伺服校准 : 0680 : 03E8 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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72: 53F5 : 注释一行 : 6163 : 206C : 6F63 : 6C6C : 6365 : 2074 : 0000
73: 0008 : : 5EA6 : 2C00 : 140A : 7805 : 0570 : 0025 : 5064
74: 0004 : 设置模式 : 0000 : 0002 : 0008 : CCCC : CCCC : CCCC : CCCC
75: 0005 : 使用模式 : 0000 : 0002 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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77: 0036 : 装载优化 RCT : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
78: 007D : TrackSqueeze Test : 010A : 0096 : 1E03 : 003C : 0578 : 1400 : 9603
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81: 0036 : 装载优化 RCT : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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83: 001C : 扩展伺服校准 : 0081 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
84: 0036 : 装载优化 RCT : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
85: 65F5 : 注释一行 : 466E : 5F48 : 4154 : 4643 : 0000 : 0000 : 0000
86: 0042 : : 0000 : 0008 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
87: 0042 : : 0000 : 00E4 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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96: 0070 : 表面测试 : 1700 : 0000 : 030F : 0050 : 03E8 : 0A01 : 0005
97: 0036 : 装载优化 RCT : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
98: 0004 : 设置模式 : 0000 : 0000 : 0008 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
99: 0005 : 使用模式 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
100 : 0014 : BER-test (误差数) : 1082 : 0000 : 1400 : 0000 : 0002 : 1441 : 0014
101 : 0014 : BER-test (误差数) : 3082 : 0000 : 1400 : 0100 : 0004 : 1441 : 0014
102 : 0017 : 存取测试 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0020 : 0000 : 0000
103 : 0016 : 随机寻找 10K-次 : 0001 : 0000 : 0000 : 0000 : 2710 : 0000 : 060D
104 : 0016 : 随机寻找 10K-次 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 2710 : 0000 : 061E
105 : 0036 : 装载优化 RCT : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
106 : 008D : set Aut : 8101 : 0000 : 0000 : 0000 : 2D00 : 0000 : 0000
107 : 0A1E : 不稳定的磁头 : 00A0 : 03E8 : 0000 : 0000 : 0A28 : 0000 : 0000
108 : 0018 : 磁头开关 : 0000 : 1388 : 0000 : 0000 : 0020 : 0000 : 0000
109 : 0019 : 磁头位移 : 0000 : 1388 : 0000 : 0000 : 000A : 0000 : 0000
110 : 009D : : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
111 : 002D : Butterfly : 0100 : 0000 : 0003 : 0200 : 0002 : 012C : 0006
112 : 0081 : 校准 PN=57 & PN=2F : 0200 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0014 : 0000
113 : 0011 : 设置伺服 : 1001 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 1400
114 : 008D : set Aut : 8101 : 0000 : 0000 : 0000 : 2D00 : 0000 : 0000
115 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0006 : 0088 : 0000 : 0000
116 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0004 : 010B : 0000 : 0000
117 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0003 : 00F0 : 0000 : 0000
118 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0003 : 01E3 : 0000 : 0000
119 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0001 : 00E6 : 0000 : 0000
120 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0001 : 00F2 : 0000 : 0000
121 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0001 : 00F3 : 0000 : 0000
122 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0001 : 00E5 : 0000 : 0000
123 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0038 : 00CF : 0000 : 0000
124 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0006 : 025A : 0000 : 0000
125 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0002 : 0139 : 0000 : 0000
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126 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0002 : 0138 : 0000 : 0000
127 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0002 : 0137 : 0000 : 0000
128 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 005F : 025F : 0000 : 0000
129 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 001E : 013C : 0000 : 0000
130 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 006E : 013E : 0000 : 0000
131 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0028 : 0140 : 0000 : 0000
132 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 002C : 00E2 : 0000 : 0000
133 : 0034 : Load Stress : 8000 : 0000 : 0000 : 0000 : 00E0 : 0000 : 0000
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193 : 0036 : 装载优化 RCT : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
194 : 0011 : 设置伺服 : 0001 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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196 : 000B : 随机填充 : 0000 : 0000 : 0000 : 0002 : 0006 : 100A : 0014
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198 : 000D : 再分配缺陷 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0001 : 0000 : 000A
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200 : 0039 : TA 再分配 : 6200 : 0000 : 0000 : 0000 : 4001 : 0015 : 0606
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202 : 0075 : HSec FlawScan (搜索坏道) : 12C2 : 0000 : 4100 : 0006 : 0002 : 0102 : 0101
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217 : 0005 : 使用模式 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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220 : 004F : : 008F : 8001 : 0003 : 0000 : 0000 : 0000 : 0F0A
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226 : 0036 : 装载优化 RCT : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
227 : 008D : set Aut : 8101 : 0000 : 0000 : 0000 : 2D00 : 0000 : 0000
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229 : 0011 : 设置伺服 : 0001 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000 : 0000
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zrwlh 发表于 2010-7-31 21:34 http://bbs.intohard.com/images/common/back.gif
只有一个38，磁盘表面优化调整SPT的流程没有，问题就在这。