技术论坛 › 三星硬盘Samsung › 关于三星自校SF中的问题请教

G3in05 发表于 2010-2-7 19:31:53

关于三星自校SF中的问题请教

按照论坛上各位前辈指导方法，成功开启SF自校，但做到第34步就停了，灯还在闪，不过在Stop condition中显示00 End of Program，在状态Cylinder中停止不动了，请教下各位前辈，这种情况如何解决？！在流程分析中，第34步是“填充最好扇区”，做到这步停止了，是否因为坏道过多所导致这个问题？希望各位前辈不吝赐教，不胜感激！
（38：

benq8888 发表于 2010-2-7 21:40:13

谢谢分享！！

小刀-567 发表于 2010-2-8 00:19:57

该头存在大量坏区.

G3in05 发表于 2010-2-8 00:32:48

问题已经解决了，解决方法很简单，当出现此情况，断电后重写一次BURN，然后开自检时选择数据库中的对应自检文件来开就OK了，当然，不排除楼上说的因为头问题导致的可能性，如果是头问题，只能砍头了！多谢大家一切交流经验和分享学习！

syzdq 发表于 2010-2-8 11:28:14

不是的，因为你前面开的是H/T测试，相当于MT的开C区SF和ST的I,,22或T02，现在已经正常做完了，SA区已经正常产生，后面就是你后来说的写入BURN后开始SF了，相当于MT的开A区SF。

huang6168615 发表于 2010-2-18 19:42:27

谢谢分享！

416518 发表于 2010-2-23 18:48:49

排骨大将军 发表于 2010-2-28 01:36:29

6# syzdq


谢谢分享！

hnjosen 发表于 2010-6-2 18:54:22

谢谢分享！

xtsm2005 发表于 2010-6-12 16:18:15

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