ln001 发表于 2006-6-23 09:09:15

D540X-4K检测问题

为什么D540X-4K表面检测全盘很多坏道,逻辑扫描却没坏道,用MHDD45看什么问题都没有,只是装XP系统后经常进不去系统
3K-ISA里的表面扫描和逻辑扫描原理不同?不是同一种检测?
页: [1]
查看完整版本: D540X-4K检测问题