xushi 发表于 2009-6-16 20:56:18

黑盘L板80G手动开启自校疑问?

手上一块80的。黑盘,L板,有不少坏道,固件全好,按论坛上手动开启自校方法修改了模块,偶然间发现,在未修改前WD的M模块里的自校,点击开始一分钟内就结束了,没用。在修改完模块后,再次点击就开始从零开始跑了,大约一个小时左右跑完,但效果不佳,盘后的40%空间还有不少坏道。于是给HPA了。请问有碰到这样情况的朋友吗?有高手解释下具体什么情况吗?小弟入行不深,望高手释疑!感谢。

闻永伟 发表于 2009-6-19 22:35:38

WD 手动开启的SF没、有多大用出,一般还要该自检流程才可以,RCT好象可以改

xuxiang1228 发表于 2009-6-20 17:02:23

我也有这样的盘   串口黑盘   迷惑不解中

jwpminimpin 发表于 2010-9-17 11:26:41

正在学习中

风之枫叶 发表于 2011-1-30 14:17:48

黑盘校准具体修改的地方:
1:2# offset=1d0 第四个字节 改成01 (校验写入) 2:28# 00ffset =10 第九个字节 改成01(校验写入) 3:将自动校准流程进行调整(关系到校准的成功率) 黑盘开自动校准: 1:02号模块是WD校准的开关模块. 2: 28号模块是WD校准的流程模
  黑盘校准具体修改的地方:

1:2# offset=1d0 第四个字节 改成01   (校验写入)

2:28# 00ffset =10 第九个字节 改成01(校验写入)

3:将自动校准流程进行调整(关系到校准的成功率)

黑盘开自动校准:

1:02号模块是WD校准的开关模块.

2: 28号模块是WD校准的流程模块.

原始并没有开过Selfscan的WD黑盘,起始的流程是FFFF(也就是结束的),修改28号模块的目的是将第一步改成(Begin).


WD的每个校准步骤都是由一个校准模块来实现的(是一一对应的)。


与WD黑盘校准相关的模块有(DC,B1,C4,EE,DA,DD,DB,D5,D4,D3,D2,EE,D6,D7,BB,B9,BA,)等

校准模块的含义:

1:DC (校准结束)。

2:B1 (暂时无含义)。

3:C4(伺服校准)。

4:EE(校准LOG).

5: DA(TS写入测试)。

6:DD(暂时无含义)。

7:DB(磁道扇区读取测试)。

8:D5(Block测试)。

9:D4(T表测试)。

103(PSN校准)。

112(P表测试)。

12:EE(校准Log)。

136(RRO测试)。

147(磁盘表面扫描)。

15:BB(暂无含义)。

16:BA(暂时无含义)。



改好後不要立即斷電,要進去32bit的selftest窗口才斷電

15233276398 发表于 2018-1-3 09:27:46

我为金子而来 顶顶顶
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