回复 3# 的帖子
好东西就 是要先顶起再说哦 感谢!顶........................................................... 这玩意不知道用起来如何. 谢谢。。。。 不知用途是否如楼上所说？ 谢谢啊 我正需要 资料说明少了些，继续补充。我加个其他的说明：RST PRO2可过滤Memory Moudule入PC制造厂之前的品质，创建国际
验收标准，以及厘清PC系统设计问题，或是Memory Moudule出厂品
质问题。此问题是目前各PC大厂最头痛的问题。经由国际Jedec工
业认证通过的Ultra-X产品之一RST Pro 2是可彻底帮助您解决这些
问题。
终极内存测试的工具组合包括RST Pro2及PCI GEN这是由ULTRA-X
公司所制造的两片专业测试工具产品终极内存测试的工具组合是
设计供服务器制造商及其它先端研发＂生产″制造内存的相关人
员，完备的工具组合对所有型态之内存（DDR2&RAM BUS）具测试
能力及其有效性。
．测试DDR2，内存将可达到64 Gigabyte。
．测试所有形态的内存Modules。
．具有自我开机系统及操作系统独立。
．对RAM提出完善的有效确认和精确测试。
．具有温度监控，电源供应器测试，及数据输出能力。
RAM Stress Test Professional 2 (RSTPro2)是一种内存测试用
的硬件／韧体设计，为了让系统制造者、设计工程师、及系统专业
服务人员等提供内存的精确测试。RSTPro 2是一个具有自我开机
系统，工作系统独立的内存诊断卡是针对操作RAM在最新
IntelPentium 4/XEON，AMD Athlon XP/MP，及Cyrix/VIA系列中相
容性的处理器，以便确认内存在Pentium系统上的有效。
重新设计的最新版本比先前的设计具有更多的特点，RST Pro 2是记
忆体测试及确认最有效的终极测试工具·RST Pro 2是被包装成无懈
可击的最佳测试利器，包括内存测试，温度监控，电源供应测试
及有能力输出数据采用卡上的串列端口。
您能选择从30个专有的内存测试演算法，目前RST Pro 2支援所
有的SIMM，DIMMS，DIMMS，（SDRAM 66-133，DDR，DDR/2，
RDRAM(RAMBus)，SRAM，ECC，Parity and Non-Parity）及其他。
RST Pro 2的主要优点，相较于一般独立的测试器，具有在系统环境
下测出有效的内存的能力，现有卡上具有内存，所以RST Pro 2
能够测试系统，由系统内存前端的2K地址开始，卡上的内存让
RST Pro 2去测试最大数量的内存。
RST Pro 2让使用者测试系统内存能排除干扰，包括任何内存驱
动器，TSR常驻程序，及O/S工作系统或视窗保护系模式的限制。RST
Pro 2可以跑所有的保护模式能十分彻底的测试将达到64Gigabyte
位元的内存。
PCI GEN (请参照PCI GEN之内文)。
RST Pro 2 and PCI GEN 全套工具之说明如下：
甚么是PCI GEN Card？
PCI GEN 是RST PRO2的配卡，是测试系统 PCI → Memory及Memory
→ PCI 路径间，经由南桥芯片做数据传输时，因多种PCI接口卡所
造成大量功率消耗，运用PCI GEN 卡去模拟测试系统不稳定的最大
可能性。
为甚么要加用PCI GEN 来测试系统的稳定性？
RST PRO2主卡的测试路径是PCI → CPU → Memory andMemory→
CPU →PCI，其中北桥芯片及FSB（Front Side Bus）的高频读写速
度将受到严格的Jecdec标准测试。
但是透过PCI Bus → Memory andMemory → PCI Bus，间的稳定
性最主要的问题不单纯是在高频速度发送数据的问题，因为PCI Bus
的工作频率较FSB低，且在PCI BUS上可供多种 PCI接口卡插上，因
系统功率消耗过大造成数据发送的不稳定性， 因此必须藉由PCI
GEN 来测试系统的稳定性。
PCI GEN 如何工作？
在RST PRO2 测试项中有PCI GEN 的测试选项，必需在PCI BUS上，
同时插上RST Pro 2 卡及PCI GEN卡才能开启测试档目，藉由PCI
GEN上发送数据讯号（128，64，32，16，8）BIT的数据结购，分别
由PCI → Memory及Memory → PCI做测试，总共为5个回圈，
(128，64，32， 16， 8)BIT，每一回圈测试2次（PCI → Memory
，Memory → PCI）共十次来完整测试系统的稳定性。
产品具有国际版权专利 另外补充楼主的说明：
RST内存检测软件
多客人需要的RST内存检测软件，免费提供下载！
Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！
使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量他都能测！！
发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。
附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。
附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。
程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试你CPU的L2 cache。
Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，专门给系统生产厂商出机前测试用的，它其实是从其它的产品中独立出来的一项测试。该公司专做系统测试的软硬体，方便生产厂商进行产品详细测试。R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过它的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题。在没有专业的内存维修工具出现以前，此内存检测软件是电脑维修人员修理内存的最好工具，以99%的测试准确率在维修行业中有目共睹。
这个软体满金贵的，国外售价500多美金！
即使不是维修人员，如果您的系统有莫名其妙的当机状况或是想要超频记忆体，不用怀疑，请用R.S.T.！
几点说明：
☆ 可以测试SD及DDR内存。
☆ 闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒
☆ 点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它（可解决部分点不亮问题）。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。
☆ 发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。
☆ 程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试CPU的 L2 cache。
☆ 软件为光盘镜像文件，用刻录机做成成启动光盘（如需要软盘版的请留言说明），使用非常简易，电脑只要设定为软、光盘启动，插入制作好的盘即可自动运行。它是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量都能测！
RAM测试软件说明书
(R.S.T )UX版
闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。
从左至右，0-7代表第一区域，8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8颗颗粒。
⒈DDR8位与16位的单面测法:
⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏
⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:
1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
16-32M-------------------------------------------------------------------------------------------------------
32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
80-96M-------------------------------------------------------------------------------------------------------
96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------
从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.
⒊SD的8位与16位的单面测法:
⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏
⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏
（注： PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）
4.通过以上的介绍，说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照
它们的排列循序来判断。
5.PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB板有问题
6.点不亮的内存的测试方法: 很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它。 必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。
7.使用方法:直接把光盘插入光驱,在主板的CMOS里设置光驱起动, 启动后本软件会自动引导到测试界面进行检测 内存坏了插上去直响，也能搞吗？
不过好东西还是得顶起来地。 xiexie...............................................