SA surface test 固件区表面测试
此功能可以检查固件区的数据。如果硬盘由于固件区的故障不能正常运转，那么就可以使用此功能来检测有故障的模块。根据检查的结果可以决定如何修复硬盘。注意只有在固件区没有坏区的情况下才可以读取全部固件。我们分析了遇到的固件区发生故障的所有情形，建议应该保存固件组和固件组之间的空间以利于修复。在有限的情况下，pc3000不能诊断固件故障。此菜单的部分功能也存在于菜单“SAcheckingandrecoverying（点击查看详细说明:SA检查和恢复）”中。联合使用两种菜单的功能，就可以修复固件区的模块。此测试所工作的磁头显示于“Utility state”（点击查看Utility state详细说明）中。若要对其他的磁头进行测试，应该切换SA磁头。
此测试执行的过程如下：
1. 检测硬盘的最小物理磁道和最大物理磁道。如果不能获取最小和最大物理磁道的数据，那么说明硬盘的微代码没有对硬盘进行初始化。
2. 检查U_LIST。读取此模块，检查此模块的校验和头部。如果此模块出错，就无法继续检查模块AT_PDL。
3.检查配置模块DISK。读取此模块，检查此模块的校验和头部。从此模块中可以获取磁头的数量和映射。
4. 检查校准数据，即SRV模块。读取此模块并检查此模块的校验和头部。
5. 检查模块RCT。读取此模块，并检查此模块的校验和和头部。
6. 检查ZONE表。如果此模块不可读，那么说明硬盘的微代码没有正确启动（例如，无效的引导loader）
7. 检查ROM拷贝。读取ROM并检查校验和。
8. 检查ATAoverlay。读取overlay模块，逐个检查校验和和头部。
9. 检查技术Overlay（Technology Overlay）。读取Overlay模块，逐个检查校验和和头部。再ATHENA硬盘中没有Overlay 18h模块。
10. 检查RZTBL。读取此模块，检查此模块的头部和校验和。此模块的数据用于检查RZTBL和AT_PDL一致。
11. 检查P_List（AT_PDL）。此模块是组成译码表的基本模块，含有缺陷的精确位置。此模块有多个部分组成，每一部分都有独立的校验和。此模块的战友的扇区书记录与U-LIST。
12 .检查G-LIST。只检查此模块的校验和，而不检查其数据结构的正确与否。
13. 检查RZTBL和P-LIST是否一致。此测试会修正译码表的基本部分。修正过程基于P-LIST的声明域（译者注：为便于理解，译文“声明”借自编程语言中的声明。含义类似）。此测试会通过缺陷记录是否存在于P-LIST，或存在于RZTBL，或存在于两者中，来找出无效的缺陷纪录。
14. 检查H-LIST和RZTBL。此测试会检查H-LIST中的缺陷（模块PN=33h）和译码表的一致性。理论上会出现这样的情况：译码表和缺陷表中包含的缺陷记录不同，例如，译码表来自其它硬盘或者译码表被清空（执行了清空P-list和G-list操作）。
15. 检查H—lists。读取此模块并检查头部和校验和。
16. 检查安全模块。显示ATA密码数据。如果设置了密码，硬盘就无法正常运转。硬盘也不总是计算此模块的校验和，不过SECU模块的校验和错误不会影响微代码的载入。
17. 检查模块S.M.A.R.T.。读取模块，但是不检查模块的校验和——这是由于硬盘的校验和只对ATA指令有意义。如果PC3000显示校验和错误，并不表示模块故障。
18. 检查FMTI。此模块用于“满容量”的硬盘中，含有针对每个ZONE的不同的校准数据。
19. 检查DISK/PW模块（PN=95h）。此模块用于boot—ROM载入“程序1”和“程序2”的选择。如果此模块不可读或者出错，那么boot—ROM程序就不会从固件区启动。
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